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哈默納科輪廓誤差諧波CSF-20-80-2UH-LW

哈默納科輪廓誤差諧波CSF-20-80-2UH-LW

更新時間:2024-06-16

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簡要描述:
哈默納科輪廓誤差諧波CSF-20-80-2UH-LW可產(chǎn)生徑向彈性變形并帶有外齒的柔輪和一個裝在柔輪內(nèi)部、呈橢圓形、外圈帶有柔性滾動軸承的波發(fā)生器。
品牌其他品牌貨號123
規(guī)格CSF-20-80-2UH-LW供貨周期一個月以上
主要用途機(jī)械設(shè)備應(yīng)用領(lǐng)域電子
名稱哈默納科用途半導(dǎo)體、機(jī)器人、機(jī)械設(shè)備
材質(zhì)是否進(jìn)口

因而實際評定過程中往往用優(yōu)化的方法,在計算機(jī)上由實測各點的坐標(biāo)值計算求取圓柱度誤差值。

   小二乘圓柱面法評定圓柱度誤差,是以被測實際表面上各點到該圓柱面距離平方和為小的圓柱面為理想圓柱面,哈默納科輪廓誤差諧波CSF-20-80-2UH-LW被測實際表面各點到該圓柱面的大距離為圓柱度誤差。實際評定過程中,可由實測各點的坐標(biāo)值按上述定義求出小二乘圓柱面的軸線,然后以各測點到該軸線距離的大值與小值之差為圓柱度誤差,這一計算評定過程一般由計算機(jī)來完成。小二乘圓柱法往往用作其他方法的數(shù)據(jù)預(yù)處理。

   〔六)輪廓度誤差的測量

   輪廓度公差帶是相對于理想輪廓雙向等距分布的,理想輪廓的形狀由理論正確尺寸確定,在有些情況下理想輪廓相對于基準(zhǔn)還有方向或位置的要哈默納科輪廓誤差諧波CSF-20-80-2UH-LW求。在評定輪廓度誤差時,應(yīng)在由公差帶所規(guī)定的理想輪廓兩側(cè)作雙向等距的小包容區(qū)域,該包容區(qū)域的法向?qū)挾葹檩喞日`差。

   輪廓度誤差的常見測量方法有仿形、輪廓樣板法、投影法、坐標(biāo)法和多點比較測量。

   C2)輪廓樣板法為用輪廓樣板測量線輪廓度示意圖。測量時,將樣板

按規(guī)定方向放置在被測工件上


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